







所謂的閂鎖效應(yīng)Latch-up,是指瞬間電流被鎖定或者放大,而造成芯片在電源與對地之間造成短路,而因為大電流損傷芯片。由于目前半導體電路設(shè)計密度越來越高,電壓或電流的瞬間變化對于芯片的損傷也越趨嚴重。此外,目前半導體業(yè)界部分認為客退品中經(jīng)常出現(xiàn)的EOS (Electrical Over Stress) 問題與閂鎖測試有相當程度關(guān)聯(lián),因此此項測試變得非常重要。

| 項目概述
閂鎖效應(yīng)Latch-up,是指瞬間電流被鎖定或者放大,而造成芯片在電源與對地之間造成短路,而因為大電流損傷芯片。由于目前半導體電路設(shè)計密度越來越高,電壓或電流的瞬間變化對于芯片的損傷也越趨嚴重。此外,目前半導體業(yè)界部分認為客退品中經(jīng)常出現(xiàn)的EOS (Electrical Over Stress) 問題與閂鎖測試有相當程度關(guān)聯(lián),因此此項測試變得非常重要。
| 試驗標準
閂鎖測試主要參考JEDEC 78規(guī)范以及AEC-Q100-004之定義,其中在車用電子的測試中,定義必須使用Class II,即最高環(huán)境溫度條件 (Maximum Operation Temperature),較傳統(tǒng)常溫更為嚴格。
| 美信優(yōu)勢
美信檢測提供完整的半導體產(chǎn)品芯片可靠性試驗項目,協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
1、專業(yè)團隊:擁有多名經(jīng)驗豐富的檢測工程師和技術(shù)專家。
2、先進設(shè)備:配備國際領(lǐng)先的檢測設(shè)備,確保檢測結(jié)果的準確性和可靠性。
3、高效服務(wù):快速響應(yīng)客戶需求,提供一站式高效檢測服務(wù)。
4、權(quán)威認證:實驗室通過ISO/IEC 17025認證,檢測報告具有國際公信力。